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YSC-4076 # 一维光强分布传感器
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简介

YSC-4076 一维光强分布传感器是一款专为光强线性分布测量设计的精密设备,配备高分辨率阵列式探测器,测量精度高,可精准捕捉光强在单一方向上的动态变化。配合专业光学分析软件,可满足激光光斑分析、光学器件检测等高精度测量需求。紧凑型设计,标配水平调节块,安装灵活,适用于实验室、工业质检及科研场景。



特点

  • 超高分辨率与精度

    采用高分辨率阵列式探测器,覆盖宽幅光强分布范围,细节捕捉无遗漏。

    极高的测量精度,精准定位光强峰值与分布趋势。

  • 即插即用,高效传输

    USB即插即用,支持实时数据传输与快速分析。

    标配水平调节块,轻松校准设备位置,确保测量稳定性。

  • 紧凑便携设计

    体积小巧,轻量化结构,适配狭小空间部署。

    铝合金外壳,抗干扰性强,适应复杂光学实验环境。

  • 多功能兼容性

    配合专业光学分析软件,一键生成光强分布曲线与数据报告。



应用

  • 科研与教学

    光学实验教学、光栅衍射实验数据采集与分析。

  • 激光光斑分析

    测量激光束横向光强分布。

  • 光学器件检测

    透镜、棱镜透射/反射光强分布测试,验证器件均匀性。

  • 显示屏均匀性校准

    检测LED屏幕或背光模组的光强线性分布,提升显示效果。

  • 工业质检

    光纤、光缆端面光强分布检测,确保产品一致性。

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